電化學(xué)阻抗譜(EIS)在鋰電池中的應(yīng)用與解析

許多研究電池的學(xué)者,在初次接觸交流阻抗的概念時(shí),可能會(huì)感到難以理解。畢竟,巴德的《電化學(xué)原理與應(yīng)用》以及曹楚南、張鑒清的《電化學(xué)阻抗譜導(dǎo)論》都以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓酵茖?dǎo)為基石。然而,我們將努力簡(jiǎn)化內(nèi)容,深入淺出地探討交流阻抗譜,特別是它在鋰電池領(lǐng)域的應(yīng)用。

電化學(xué)阻抗譜,這一相對(duì)較新的電化學(xué)測(cè)量技術(shù),盡管歷史不長(zhǎng),卻發(fā)展迅猛。如今,它已廣泛應(yīng)用于電池、燃料電池以及腐蝕與防護(hù)等眾多電化學(xué)領(lǐng)域。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),電化學(xué)阻抗譜(Electrochemical Impedance Spectroscopy,EIS)通過(guò)給電化學(xué)系統(tǒng)施加一個(gè)頻率變化的小振幅交流正弦電勢(shì)波,來(lái)測(cè)量系統(tǒng)阻抗隨正弦波頻率ω的變化,或是阻抗相位角f隨ω的變化。

可以更直觀地通過(guò)以下示意圖來(lái)理解電化學(xué)阻抗譜的測(cè)量過(guò)程。首先,波形發(fā)生器產(chǎn)生一個(gè)小幅正弦電勢(shì)信號(hào),該信號(hào)通過(guò)恒電位儀施加到電化學(xué)系統(tǒng)上。隨后,輸出的電流/電勢(shì)信號(hào)經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)換,利用鎖相放大器或頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)量,從而得到阻抗及其模量或相位角。通過(guò)改變正弦波的頻率,我們可以獲取一系列不同頻率下的阻抗、阻抗模量和相位角,進(jìn)而繪制出電化學(xué)阻抗譜。這種方法被稱為電化學(xué)阻抗譜法,由于所使用的擾動(dòng)電信號(hào)是交流信號(hào),因此也被稱為交流阻抗譜。

EIS技術(shù)在電化學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,包括分析電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、雙電層和擴(kuò)散等現(xiàn)象。它還可以用于研究電極材料、固體電解質(zhì)、導(dǎo)電高分子以及腐蝕防護(hù)機(jī)理等。在利用EIS研究電化學(xué)系統(tǒng)時(shí),一個(gè)基本思路是將系統(tǒng)視為等效電路,該電路由電阻、電容、電感等基本元件以串聯(lián)或并聯(lián)等方式組合而成。通過(guò)測(cè)量這些元件的大小,并結(jié)合它們的電化學(xué)含義,我們可以進(jìn)一步分析電化學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和電極過(guò)程的性質(zhì)。

我們可以將內(nèi)部結(jié)構(gòu)未知的電化學(xué)系統(tǒng)視作一個(gè)黑箱,向其中輸入一個(gè)擾動(dòng)函數(shù)(或激勵(lì)函數(shù)),系統(tǒng)會(huì)相應(yīng)地輸出一個(gè)響應(yīng)信號(hào)。描述這種擾動(dòng)與響應(yīng)關(guān)系的函數(shù)被稱為傳輸函數(shù),它反映了系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)特性。通過(guò)對(duì)傳輸函數(shù)的研究,我們可以深入了解系統(tǒng)的性質(zhì)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。特別是當(dāng)系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)線性和穩(wěn)定性時(shí),輸出信號(hào)與擾動(dòng)信號(hào)之間將呈現(xiàn)線性關(guān)系,這為我們的分析提供了便利。

輸入信號(hào)的不同賦予了G(ω)不同的含義。在公式Y(jié)/X=G(ω)中,X代表輸入的擾動(dòng)信號(hào),Y是相應(yīng)的輸出信號(hào),而G則是兩者的關(guān)系結(jié)果,它們的頻率都為ω。當(dāng)X表示電流而Y表示電勢(shì)時(shí),G(ω)被定義為阻抗,用Z表示;反之,當(dāng)X為電勢(shì)而Y為電流時(shí),G(ω)則被定義為導(dǎo)納,用Y表示。值得注意的是,阻抗和導(dǎo)納是互為倒數(shù)的關(guān)系,它們共同構(gòu)成了阻納的概念,用G表示。

阻納是一個(gè)隨角頻率ω變化的矢量,通常用角頻率ω(或一般頻率f)的復(fù)變函數(shù)來(lái)表示。這個(gè)復(fù)變函數(shù)一般寫作Z=Z’+jZ”,其中Z’代表實(shí)部,而Z”則是虛部。下面是一張典型的復(fù)變函數(shù)圖,可以更直觀地展示阻納的變化規(guī)律。

兩種電化學(xué)阻抗譜

電化學(xué)阻抗技術(shù)涉及測(cè)定不同頻率ω的擾動(dòng)信號(hào)X與響應(yīng)信號(hào)Y的比值,從而獲取各頻率下的阻抗實(shí)部、虛部、模值及相位角。將這些數(shù)據(jù)繪制成不同形式的曲線,便得到電化學(xué)阻抗譜。其中,常用的兩種譜圖分別是奈奎斯特圖(Nyquist plot)和波特圖(Bode plot)。

在奈奎斯特圖中,阻抗的實(shí)部被用作橫軸,而虛部的負(fù)數(shù)則作為縱軸。此圖以頻率為參數(shù),左側(cè)代表高頻區(qū),右側(cè)則為低頻區(qū)。每個(gè)點(diǎn)都對(duì)應(yīng)著一個(gè)特定的頻率。

波特圖則包含兩條曲線:一條以頻率的對(duì)數(shù)為橫坐標(biāo),另一條以阻抗模值的對(duì)數(shù)為縱坐標(biāo),同時(shí)還有一條曲線展示阻抗的相位角。通過(guò)奈奎斯特圖或波特圖,我們可以深入分析電化學(xué)系統(tǒng)的阻抗特性,從而獲取有價(jià)值的電化學(xué)信息。

EIS測(cè)量的前提條件

為了確保電化學(xué)系統(tǒng)測(cè)量的阻抗譜具有實(shí)際意義,系統(tǒng)必須滿足三個(gè)基本條件:首先是因果性條件,即輸出響應(yīng)信號(hào)僅由輸入擾動(dòng)信號(hào)引起,排除其他干擾;其次是線性條件,要求輸出響應(yīng)信號(hào)與輸入擾動(dòng)信號(hào)之間保持線性關(guān)系;最后是穩(wěn)定性條件,確保系統(tǒng)在測(cè)量過(guò)程中保持穩(wěn)定。通常,為了滿足線性條件,會(huì)采用小幅度的正弦波電勢(shì)信號(hào)來(lái)擾動(dòng)系統(tǒng),此時(shí)電勢(shì)與電流之間的關(guān)系可近似為線性。
穩(wěn)定性條件在EIS測(cè)量中至關(guān)重要。它確保在擾動(dòng)停止后,系統(tǒng)能夠迅速且有效地恢復(fù)到原先的狀態(tài)。對(duì)于可逆反應(yīng),這一條件通常容易滿足。而對(duì)于不可逆的電極過(guò)程,只要電極表面的變化不是非常迅速,且擾動(dòng)幅度較小、作用時(shí)間短,那么在擾動(dòng)停止后,系統(tǒng)也能恢復(fù)到接近原先的狀態(tài),從而近似地滿足穩(wěn)定性條件。然而,當(dāng)電極反應(yīng)非??焖伲蛘邤_動(dòng)的頻率較低、作用時(shí)間較長(zhǎng)時(shí),穩(wěn)定性條件的滿足就變得較為困難。因此,EIS在研究這類快速且不可逆的反應(yīng)時(shí)面臨一定的挑戰(zhàn)。
此外,EIS測(cè)量還必須滿足另一個(gè)重要條件,即在整個(gè)頻率范圍內(nèi)所測(cè)定的阻抗或?qū)Ъ{值必須是有限的。這一條件確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。

EIS測(cè)量的特點(diǎn)

在于其準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)方法和簡(jiǎn)化計(jì)算。由于采用小幅度的正弦電勢(shì)信號(hào)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行微擾,在平衡電勢(shì)附近測(cè)量時(shí),電極上的陽(yáng)極和陰極過(guò)程會(huì)交替出現(xiàn)且相互抵消,從而避免了極化現(xiàn)象的積累性發(fā)展和電極表面狀態(tài)的破壞。這使得EIS法成為一種準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)方法,簡(jiǎn)化了數(shù)學(xué)處理過(guò)程。同時(shí),由于其寬頻率范圍的測(cè)量能力,EIS能夠提供比常規(guī)方法更多的動(dòng)力學(xué)信息和電極界面結(jié)構(gòu)信息。

在拆解等效電路時(shí),我們首先需要了解各基本元件在Nyquist圖中的表現(xiàn)形式。電阻在Nyquist圖上表現(xiàn)為橫軸上的一個(gè)點(diǎn);電容則表現(xiàn)為與縱軸重合的一條直線;而電組R和電容C的串聯(lián)或并聯(lián)電路則分別表現(xiàn)為與橫軸交于R并與縱軸平行的一條直線,以及半徑為R/2的半圓。

最后,我們還需要了解兩種典型的EIS類型。一種是電荷傳遞過(guò)程控制的EIS,當(dāng)電極過(guò)程主要受電荷傳遞步驟控制時(shí),擴(kuò)散過(guò)程引起的阻抗可以忽略,此時(shí)電化學(xué)系統(tǒng)的等效電路可簡(jiǎn)化為一個(gè)電阻和電容的串聯(lián)或并聯(lián)電路。另一種則是擴(kuò)散過(guò)程控制的EIS,當(dāng)擴(kuò)散過(guò)程成為電極過(guò)程的速率控制步驟時(shí),等效電路將更加復(fù)雜。

等效電路的構(gòu)成

首先,電荷傳遞電阻與電極溶液界面上的雙電層電容進(jìn)行并聯(lián)連接。隨后,這個(gè)并聯(lián)電路再與歐姆電阻進(jìn)行串聯(lián)。值得注意的是,歐姆電阻不僅包含了測(cè)量回路中溶液的電阻,還可能涉及到工作電極與參比電極間或兩電極電池中的溶液電阻。

若我們進(jìn)一步推導(dǎo)公式,會(huì)得到一個(gè)描述等效電路的方程,其對(duì)應(yīng)的圖形為一個(gè)以(RΩ+Rct/2,0)為圓心,Rct/2為半徑的圓,具體如下圖所示。

從Nyquist圖上,我們可以直接讀取出Rω和Rct的值,其中Zre=RΩ+Rct/2。此外,通過(guò)半圓頂點(diǎn)的ω值,我們還可以進(jìn)一步求得Cd,計(jì)算公式為Cd=1/ωR。

然而,在實(shí)際的固體電極EIS測(cè)量中,我們發(fā)現(xiàn)曲線往往偏離半圓軌跡,而呈現(xiàn)為一段圓弧,這被稱為容抗弧。這種現(xiàn)象被稱為“彌散效應(yīng)”,其產(chǎn)生的原因尚不完全清楚,但一般認(rèn)為與電極表面的不均勻性、電極表面的吸附層以及溶液的導(dǎo)電性差等因素有關(guān)。它揭示了電極雙電層偏離理想電容的特性,即簡(jiǎn)單地將電極界面的雙電層等效為一個(gè)物理純電容是不夠準(zhǔn)確的。

溶液電阻Rω并非僅指溶液的歐姆電阻

它還包括體系中可能存在的其他歐姆電阻,例如電極表面膜的歐姆電阻、電池隔膜的歐姆電阻以及電極材料本身的歐姆電阻等。

當(dāng)電荷傳遞動(dòng)力學(xué)較慢時(shí)

電荷傳遞過(guò)程和擴(kuò)散過(guò)程會(huì)共同控制總的電極過(guò)程,這時(shí)電化學(xué)極化和濃差極化同時(shí)存在。這種情況下,電化學(xué)系統(tǒng)的等效電路可以簡(jiǎn)化為如上所示的形式。

除了電荷傳遞電阻,電路中還存在一個(gè)由擴(kuò)散過(guò)程引起的阻抗,稱為韋伯阻抗(Warburg),用Zω表示。這個(gè)阻抗可以看作是一個(gè)擴(kuò)散電阻Rω和一個(gè)假(擴(kuò)散)電容Cω的串聯(lián)組合。通過(guò)公式推導(dǎo)和作圖,我們可以觀察到:在極低頻區(qū),Nyquist圖上擴(kuò)散控制表現(xiàn)為傾斜角為π/4(45°)的直線;而在高頻區(qū),當(dāng)電荷傳遞過(guò)程是控制步驟時(shí),電路的等效阻抗在Nyquist圖上呈現(xiàn)為半圓。因此,在平面電極上,當(dāng)電極過(guò)程同時(shí)受到電荷傳遞和擴(kuò)散過(guò)程的控制時(shí),其Nyquist圖將在整個(gè)頻率域內(nèi)由高頻區(qū)的半圓和低頻區(qū)的45度直線組成。高頻區(qū)主要受電極反應(yīng)動(dòng)力學(xué)(即電荷傳遞過(guò)程)的控制,而低頻區(qū)則主要受電極反應(yīng)的反應(yīng)物或產(chǎn)物的擴(kuò)散控制。通過(guò)該圖,我們可以求得體系的歐姆電阻、電荷傳遞電阻、電極界面雙電層電容,以及與擴(kuò)散系數(shù)相關(guān)的參數(shù)s。利用這些信息,我們可以進(jìn)一步估算擴(kuò)散系數(shù)D,并使用Rct和交換電流i0的關(guān)系式Rct=RT/nFi0來(lái)計(jì)算電極反應(yīng)的交換電流i0。

注意:

上述討論基于平板電極半無(wú)限線性擴(kuò)散的假設(shè),這是理想化的條件。在實(shí)際體系中,由于多種因素的影響,如電極表面的粗糙度或存在其他狀態(tài)變量,擴(kuò)散阻抗的直線可能會(huì)偏離45度,傾斜角會(huì)減小。這種現(xiàn)象主要由兩個(gè)原因造成:

電極表面粗糙度的影響:當(dāng)電極表面非常粗糙時(shí),擴(kuò)散過(guò)程部分類似于球面擴(kuò)散。球的半徑越小,即越偏離平板電極的條件,直線的傾斜角就越小于45度。

狀態(tài)變量的影響:除了電極電勢(shì)外,還存在其他狀態(tài)變量,這些變量在測(cè)量過(guò)程中可能引起感抗,從而影響EIS譜的形狀。

對(duì)于復(fù)雜或特殊的電化學(xué)體系,EIS譜的形狀可能更加復(fù)雜多樣。例如,可能會(huì)出現(xiàn)兩個(gè)或多個(gè)半圓弧,甚至在第二象限出現(xiàn)半圓弧。此時(shí),僅用電阻和電容來(lái)描述等效電路可能不夠準(zhǔn)確,需要引入其他電化學(xué)元件,如感抗和常相位元件等。

鋰離子電池中,EIS譜的每個(gè)頻段都對(duì)應(yīng)著特定的阻抗意義。鋰離子在嵌合物電極中的脫出和嵌入過(guò)程涉及多個(gè)步驟,包括電子和鋰離子的輸運(yùn)、電荷傳輸、固體擴(kuò)散以及活性材料結(jié)構(gòu)的改變等。這個(gè)過(guò)程在EIS譜上表現(xiàn)為多個(gè)部分,包括與鋰離子和電子輸運(yùn)有關(guān)的歐姆電阻、與鋰離子通過(guò)SEI膜擴(kuò)散遷移有關(guān)的阻抗等。通過(guò)分析這些部分的形狀和大小,可以獲得關(guān)于電池性能和反應(yīng)機(jī)理的重要信息。
(3)在中頻區(qū)域,EIS譜呈現(xiàn)出一個(gè)與電荷傳遞過(guò)程相關(guān)的半圓。這個(gè)半圓可以用一個(gè)Rct/Cdl并聯(lián)電路來(lái)表示,其中Rct代表電荷傳遞電阻,也被稱為電化學(xué)反應(yīng)電阻,而Cdl則表示雙電層電容。

(4)進(jìn)入低頻區(qū)域,EIS譜展現(xiàn)出一條與鋰離子在活性材料顆粒內(nèi)部固體擴(kuò)散過(guò)程相關(guān)的斜線。這個(gè)斜線可以用一個(gè)描述擴(kuò)散的Warburg阻抗ZW來(lái)代表。

(5)在極低頻區(qū)域(低于01Hz),EIS譜由一個(gè)與活性材料顆粒晶體結(jié)構(gòu)改變或新相生成相關(guān)的半圓,以及一條與鋰離子在活性材料中累積和消耗相關(guān)的垂線組成。這個(gè)區(qū)域的過(guò)程可以用一個(gè)Rb/Cb并聯(lián)電路與Cint組成的串聯(lián)電路來(lái)描述,其中Rb和Cb代表活性材料顆粒本體結(jié)構(gòu)改變的電阻和電容,而Cint則表示鋰離子在活性材料中的累積或消耗嵌入電容。

EIS測(cè)試的頻率范圍通常設(shè)定為10mHZ至10kHZ,振幅保持為5mV。因此,所得到的EIS圖通常呈現(xiàn)出一個(gè)與實(shí)軸的交點(diǎn),即歐姆電阻Rs,以及兩個(gè)半圓或一個(gè)半圓,再加上一條大約傾斜45°的斜線。