日本科學(xué)和分析儀器生產(chǎn)商 Horiba 的一份新報(bào)告探討了使用尖端增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS) 對(duì)石墨烯進(jìn)行表征的問(wèn)題，并重點(diǎn)介紹了對(duì)這種革命性二維材料進(jìn)行納米級(jí)分析的最新進(jìn)展。

盡管石墨烯具有卓越的導(dǎo)電性，但其集成方面的挑戰(zhàn)減緩了某些應(yīng)用的進(jìn)展。不過(guò)，隨著半導(dǎo)體二維材料的發(fā)展及其與石墨烯的潛在結(jié)合，研究人員現(xiàn)在正在重新審視石墨烯在下一代納米電子學(xué)中的作用。此外，氧化石墨烯最初被認(rèn)為是大規(guī)模生產(chǎn)石墨烯的中間體，但因其功能化和用作非導(dǎo)電層的多功能性而備受關(guān)注。

長(zhǎng)期以來(lái)，拉曼光譜一直是表征石墨烯、氧化石墨烯和其他碳相的首選方法，因?yàn)樗哂蟹瞧茐男?，能夠深入了解缺陷、無(wú)序、邊緣結(jié)構(gòu)、晶界、摻雜、應(yīng)變和熱導(dǎo)率。然而，傳統(tǒng)的衍射極限拉曼顯微鏡缺乏研究納米級(jí)石墨烯結(jié)構(gòu)所需的超高空間分辨率。

TERS 是一種將原子力顯微鏡 (AFM) 或掃描隧道顯微鏡 (STM) 與拉曼光譜相結(jié)合的先進(jìn)技術(shù)，它通過(guò)放大探針尖端下納米級(jí)區(qū)域的信號(hào)，克服了這一限制。這使研究人員能夠以前所未有的細(xì)節(jié)分析石墨烯基納米物體。側(cè)發(fā)光 TERS 分析等最新進(jìn)展進(jìn)一步增強(qiáng)了研究石墨烯在功能電子器件實(shí)際操作條件下的行為的能力。

報(bào)告強(qiáng)調(diào)了 TERS 在石墨烯研究領(lǐng)域日益增長(zhǎng)的重要性及其推動(dòng)納米電子學(xué)和材料科學(xué)取得新突破的潛力。隨著人們對(duì)二維材料的興趣不斷增加，TERS 將成為表征和優(yōu)化石墨烯技術(shù)的重要工具。